制作一臺(tái)ICT針床需要提供什么資料
824制作一臺(tái)ICT針床(In - Circuit Test Fixture)時(shí),為了確保針床能夠準(zhǔn)確、高效地對(duì)PCB(Printed Circuit Board)進(jìn)行測(cè)試,需要提供以下幾類資料: ,
查看全文全站搜索 產(chǎn)品中心 新聞中心
在SMT(表面贴装技术)生产制程中,AOI(自动光学检测)和首件检测是两种不同的质量控制手段,在检测阶段、技术原理、应用场景等方面存在明显差异。以下是具体对比:
一、核心定义与技术原理
AOI(自动光学检测)
定义:通过光学摄像头对PCB(印刷电路板)上的元器件焊接、贴装位置等进行图像采集,再与标准图像或CAD数据比对,自动识别缺陷的设备。
技术原理:
利用光源(如红/绿/蓝三色光、红外光)照射PCB,摄像头获取高分辨率图像。
基于模板匹配、边缘检测、灰度分析等算法,对比实测图像与标准图像的差异,判断是否存在缺陷(如元件偏移、焊锡不足、极性反置等)。
典型检测精度:±5μm,可识别01005超微型元件的贴装误差。
首件检测
定义:在批量生产前,对首块(或前几块)PCB进行全面检查,确认生产工艺参数是否正确的过程,分为人工首件和自动首件。
技术原理:
人工首件:操作人员依据BOM表(物料清单)、坐标文件等,使用万用表、放大镜等工具,逐一对元件型号、值(如电阻阻值、电容容值)、贴装位置进行核对。
自动首件:通过专用设备(如PTI-500X全自动首件测试仪)扫描PCB,结合Gerber文件和BOM数据,自动比对元件参数(如阻值、容值)与贴装位置,精度可达±1%。

二、检测阶段与目的
| 维度 | AOI | 首件检测 |
| 检测阶段 | 批量生产过程中(中后段) | 批量生产前(前段) |
| 核心目的 | 实时监控生产质量,剔除不良品 | 验证工艺参数(如贴片机坐标、炉温曲线)是否正确,避免批量性错误 |
| 缺陷定位 | 快速标记缺陷位置(如 X-Y 坐标、缺陷类型) | 全面排查工艺设置问题(如钢网开口尺寸、贴片压力) |
| 预防重点 | 焊接缺陷(如桥接、虚焊)、元件偏移 | 元件错料(如 0603 电阻错贴为 0805)、极性错误、参数不符 |
三、检测内容与能力对比
AOI的检测范围
| 焊接质量 | 焊锡缺陷:少锡、多锡、桥接、虚焊 |
| 贴装精度 | 元件偏移(X/Y轴偏移量>5%元件尺寸)、旋转角度(>5°)、立碑(曼哈顿现象) |
| 元件存在性 | 漏贴、反贴(如IC方向错误)、破损(通过边缘轮廓识别) |
首件检测的核心项目
| 元件参数准确性 | 电阻阻值(如100Ω±5%)、电容容值(10μF±10%)、电感感量,通过万用表或LCR表实测。例:首件检测发现某0402电阻实测值为1kΩ,而BOM要求10kΩ,判定为错料。 |
| 贴装位置与极性 | 对比Gerber文件中的元件坐标,检查是否偏移(如IC贴装偏移>0.1mm);通过丝印层与元件标记比对,确认极性(如电解电容、二极管方向) |
| 工艺参数验证 | 确认钢网开孔是否匹配元件尺寸(如01005元件对应钢网开口0.08mm×0.12mm),回流焊炉温是否达到元件焊接要求(如峰值温度230±5℃) |

四、设备与效率差异
AOI设备特点
硬件配置:多相机架构(如顶部相机+侧面相机),支持3D检测(如Solder Paste Inspection,SPI)。
检测速度:1-3秒/PCB(取决于元件数量),适合高速流水线。
典型场景:安装在回流焊后,对成品PCB进行100%全检,剔除焊接不良品。
首件检测设备特点
硬件配置:自动首件测试仪集成高精度扫描头(分辨率10-20μm)和多通道测试探针,支持飞针测试(无需夹具)。
检测速度:5-15分钟/PCB(取决于元件数量),适合中小批量生产。
典型场景:新工单上线、设备换型(如更换贴片机程序)后,对前3-5块PCB进行首件检测,确认无误后再批量生产。
五、质量控制中的协同作用
二者不可相互替代,需协同应用
首件检测解决“批量生产是否可行”的问题,聚焦工艺参数的初始正确性;
AOI解决“生产过程是否稳定”的问题,聚焦实时缺陷剔除与过程优化。
在高端电子产品(如汽车电子、医疗设备)的SMT制程中,通常要求“首件全检+AOI 100%检测”,以确保零缺陷交付。
制作一臺(tái)ICT針床(In - Circuit Test Fixture)時(shí),為了確保針床能夠準(zhǔn)確、高效地對(duì)PCB(Printed Circuit Board)進(jìn)行測(cè)試,需要提供以下幾類資料: ,
查看全文現(xiàn)象:同一測(cè)試點(diǎn)反復(fù)測(cè)試失敗,更換 PCB 后仍在相同位置報(bào)錯(cuò)。一測(cè)就報(bào) N 個(gè)開路點(diǎn),有的板子重測(cè)又好了。 板面問題 治具/探針問題 測(cè)試方法/電氣設(shè)置 環(huán)境與流程 清潔/更換周期沒管控,針頭與板面都“越測(cè)越臟” 快速定位(1...
查看全文ICT(In - Circuit Test,在線測(cè)試)誤報(bào)率受多種因素影響,以下從治具、程序、系統(tǒng)與環(huán)境、PCB 本身等方面詳細(xì)說明: ,
查看全文在 PCBA(Printed Circuit Board Assembly,印刷電路板組件)電測(cè)領(lǐng)域,ICT(In-Circuit Test,在線測(cè)試) 和 FCT(Functional Circuit Test,功能測(cè)試) 是兩種核心測(cè)試手段,二者從測(cè)試原理、目的到應(yīng)用場(chǎng)景均存在顯著差異,共同構(gòu)成了 PCBA 從 “元件級(jí)...
查看全文
0